1D光学式マイクロメータ

光学式マイクロメータは影測定の原理に基づいて動作します。

投光器は安定したコリメート光ビームを生成し、受光器へ向けて照射します。対象物が測定フィールドに入ると、ビームの一部を遮り、影像を形成します。受光器内の検出器アレイが影の境界を捉え、内蔵プロセッサが対象物エッジの正確な位置を算出します。

この測定方法により、システムは測定対象の表面に触れることなく寸法を判定できます。そのため、光学式マイクロメータは、ワイヤ、ケーブル、ロッド、精密部品など、高温、移動中、壊れやすい、または連続生産される対象物の検査に適しています。

非接触マイクロメータは、機械的接触の代わりに光学センシングを用いて対象物の寸法を判定する測定器です。

測定対象部品との物理的接触を必要とする従来のマイクロメータとは異なり、光学式マイクロメータは光ビームを通して対象物を測定します。これにより、軟質材料の変形を防ぎ、表面損傷を回避し、生産ラインを移動する対象物の測定が可能になります。

非接触マイクロメータは、高速性と繰り返し精度が求められる直径制御、寸法検査、自動品質監視に広く使用されています。

光学式マイクロメータでは次を測定できます:

• ワイヤ、ロッド、チューブ、円筒物の直径;
• 精密部品の幅;
• 部品間の隙間;
• エッジ位置;
• 対象物の変位;
• 幾何形状対象物の寸法特性。

光学式直径測定は、透過型光学式マイクロメータの最も一般的な用途の1つです。

主な違いは測定軸の数です。

1D光学式マイクロメータは、直径、幅、エッジ位置などの単一寸法を測定します。ワイヤ、ファイバ、チューブ、ロッドなどの円筒物の制御に一般的に使用されます。

2D光学式マイクロメータは2軸の寸法を同時に測定し、対象物の形状をより詳細に検査できます。たとえば、2軸光学式マイクロメータは部品のX寸法とY寸法の両方を測定したり、測定フィールド内での位置を判定したりできます。

1D光学式マイクロメータと2D光学式マイクロメータの選択は、用途が単一パラメータ測定を必要とするか、多軸の寸法制御を必要とするかによって決まります。

光学式マイクロメータは、次のような各種寸法パラメータを非接触で測定できます:

ワイヤ、ロッド、チューブ、円筒部品の直径;

• 精密部品の幅;
• 要素間の隙間;
• エッジ位置;
• 対象物の変位;
• 幾何プロファイルの外形寸法。

測定は影検出に基づくため、高速生産環境でも対象物の境界を正確に識別できます。

レーザマイクロメータと光学式マイクロメータはいずれも、光を用いて非接触の寸法測定を行います。

光学式マイクロメータは通常、影の原理を使用し、対象物が平行光ビームを遮ることで、システムが生じた影のエッジを測定します。

レーザマイクロメータは設計に応じて、レーザ走査方式や三角測距方式など、異なる光学原理を使用する場合があります。

光学式マイクロメータの原理は、対象物が平行光ビームを遮ったときに生じる影を測定することに基づいています。

受光部は検出器アレイを使用して影のエッジを検出します。プロセッサがこれらのエッジ位置から対象物の寸法を算出します。

この原理により、対象物の寸法を非接触で高速かつ繰り返し精度よく測定できます。